- FT-NIR (Fourier Transform Near-Infrared Spectrometer)
- 광원인 근적외선을 이용하여 시료를 간섭계 거쳐 신호로 출력된 것을 푸리에 변환을 통해 스펙트럼화 한 후 검량선 작업을 통하여 조성비를 수치화하는 원리로 분석하는 장비
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STEP. 01
Near-infrared irradiation
근적외선 광원을 사용하여 Sample에 빛을 조사
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STEP. 02
Light interaction
빛은 Sample과 상호작용하여 흡수 또는 반사
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STEP. 03
Interferometer
흡수 또는 반사된 빛은 간섭계 통과하여 검출기에 의해 신호로 변환
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STEP. 04
Fourier Transform
주파수 영역 데이터로 변환되고 Spectrum 형태로 표현, 파장에서 빛의 흡수 강도 나타냄
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STEP. 05
Data Analysis
Spectrum Data로 물질의 존재와 농도 확인 분석을 통해 검량선 생성 조성비 수치화 가능
- Sample Compartment
- TE-InGaAs detector, 12,800 - 4,000cm -1
- Frequency range
- 14000 to 4000 cm -1
- Photometric accuracy
- 0.1%
- Resolution
- 2cm-1
- 대상
- Liquid Type Chemical [산, 알칼리, 유기용제]
- Sample Size
- >1ml/회